Abadir, Magdy S.: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (80)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

A Knowledge-Based System for Designing Testable VLSI Chips

Abadir, Magdy, Breuer, Melvin

Журнал:

IEEE Design & Test of Computers

Рік:

1985

Мова:

english

Файл:

PDF, 14.50 MB

english, 1985

Multichip systems trade-off analysis tool

Peter A. Sandborn, Rajarshi Ghosh, Ken Drake, Magdy Abadir, Linda Bal, Ashish Parikh

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.09 MB

english, 1994

High Level Test Economics Advisor (Hi-TEA)

Magdy Abadir, Ashish Parikh, Linda Bal, Peter Sandborn, Cynthia Murphy

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 1023 KB

english, 1994

Introduction

Magdy Abadir, Tony Ambler

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 117 KB

english, 1994

Functional Fault Equivalence and Diagnostic Test Generation in Combinational Logic Circuits Using Conventional ATPG

Andreas Veneris, Robert Chang, Magdy S. Abadir, Sep Seyedi

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 861 KB

english, 2005

Intraoperative wake-up test in neonatal neurosurgery

RAMASAMY GOVINDARAJAN, OLUWASEUN BABALOLA, MAGDY GAD-EL-KAREEM, NAGENDRA S KODALI, JUDITH ARONSON, ADEL ABADIR

Журнал:

Pediatric Anesthesia

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 49 KB

english, 2006

Economic Analysis of Test Process Flows for Multichip Modules Using Known Good Die

Cynthia F. Murphy, Magdy S. Abadir, Peter A. Sandborn

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 227 KB

english, 1997

Guest Editorial

Magdy Abadir

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 11 KB

english, 2000

Test Generation Based on High-Level Assertion Specification for PowerPCTM Microprocessor Embedded Arrays

Li-C. Wang, Magdy S. Abadir

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 164 KB

english, 1998

Experience in Validation of PowerPCTM Microprocessor Embedded Arrays

Li-C. Wang, Magdy S. Abadir

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 450 KB

english, 1999

On Efficiently Producing Quality Tests for Custom Circuits in PowerPC™ Microprocessors

Li-C. Wang, Magdy S. Abadir

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 105 KB

english, 2000

Oscillation Ring Delay Test for High Performance Microprocessors

Wen Ching Wu, Chung Len Lee, Ming Shae Wu, Jwu E. Chen, Magdy S. Abadir

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 115 KB

english, 2000

Formal Verification Successes at Motorola

Magdy S. Abadir, Kenneth L. Albin, John Havlicek, Narayanan Krishnamurthy, Andrew K. Martin

Журнал:

Formal Methods in System Design

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 55 KB

english, 2003

Synthesis and characterization of laminated Si/SiC composites

Naga, Salma M., Kenawy, Sayed H., Awaad, Mohamed, Abd El-Wahab, Hamada S., Greil, Peter, Abadir, Magdi F.

Журнал:

Journal of Advanced Research

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.26 MB

english, 2013

[ACM Press the 41st annual conference - San Diego, CA, USA (2004.06.07-2004.06.11)] Proceedings of the 41st annual conference on Design automation - DAC '04 - On path-based learning and its applications in delay test and diagnosis

Wang, Li-C., Mak, T. M., Cheng, Kwang-Ting, Abadir, Magdy S.

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 437 KB

english, 2004

[ACM Press the 50th Annual Design Automation Conference - Austin, Texas (2013.05.29-2013.06.07)] Proceedings of the 50th Annual Design Automation Conference on - DAC '13 - Simulation knowledge extraction and reuse in constrained random processor verification

Chen, Wen, Wang, Li-Chung, Bhadra, Jay, Abadir, Magdy

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 835 KB

english, 2013

Guest Editorial: Test and Verification Challenges for Future Microprocessors and SoC Designs

Ray, Sandip, Bhadra, Jay, Abadir, Magdy S., Wang, Li-C

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 144 KB

english, 2013

[ACM Press the 2003 conference - Kitakyushu, Japan (2003.01.21-2003.01.24)] Proceedings of the 2003 conference on Asia South Pacific design automation - ASPDAC - An automated method for test model generation from switch level circuits

McDougall, Tim, Parashkevov, Atanas, Jolly, Simon, Zhu, Juhong, Zeng, Jing, Pyron, Carol, Abadir, Magdy

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 114 KB

english, 2003

[IEEE 2010 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT) - Anaheim, FL, USA (2010.06.10-2010.06.12)] 2010 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT) - Coverage metrics for verification of concurrent SystemC designs using mutation testing

Sen, Alper, Abadir, Magdy S.

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 520 KB

english, 2010

[IEEE 2006 IEEE International SOC Conference - Austin, TX (2006.09.24-2006.09.27)] 2006 IEEE International SOC Conference - A Trace-Driven Validation Methodology for Multi-Processor SOCS

Bhadra, Jayanta, Trofimova, Ekaterina, Giordano, Leonard, Abadir, Magdy

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.42 MB

english, 2006

[IEEE 2011 IEEE VLSI Test Symposium (VTS) - Dana Point, CA, USA (2011.05.1-2011.05.5)] 29th VLSI Test Symposium - Understanding customer returns from a test perspective

Sumikawa, Nik, Drmanac, Dragoljub, Wang, Li-C., Winemberg, LeRoy, Abadir, Magdy S.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.19 MB

english, 2011

[IEEE 2013 IFIP/IEEE 21st International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) - Istanbul, Turkey (2013.10.7-2013.10.9)] 2013 IFIP/IEEE 21st International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) - Keynote 1 — VLSI 2.0: R&D Post Moore

Nassif, Sani, Patt, Yale, Abadir, Magdy

Рік:

2013

Файл:

PDF, 196 KB

2013

[IEEE 2014 IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - Platja d'Aro, Girona, Spain (2014.7.7-2014.7.9)] 2014 IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) - Multivariate outlier modeling for capturing customer returns — How simple it can be

Tikkanen, Jeff, Sumikawa, Nik, Wang, Li-C., Abadir, Magdy S.

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.82 MB

english, 2014

[IEEE 20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07) - Bangalore, India (2007.01.6-2007.01.10)] 20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07) - STEFAL: A System Level Temperature- and Floorplan-Aware Leakage Power Estimator for SoCs

Gupta, Aseem, Dutt, Nikil, Kurdahi, Fadi, Khouri, Kamal, Abadir, Magdy

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 392 KB

english, 2007

[IEEE Seventh International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV'06) - Austin, TX, USA (2006.12.4-2006.12.5)] Seventh International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV'06) - Directed Micro-architectural Test Generation for an Industrial Processor: A Case Study

Koo, Heon-Mo, Mishra, Prabhat, Bhadra, Jayanta, Abadir, Magdy

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 259 KB

english, 2006

[IEEE 2011 IEEE International Test Conference (ITC) - Anaheim, CA, USA (2011.09.20-2011.09.22)] 2011 IEEE International Test Conference - Forward prediction based on wafer sort data — A case study

Sumikawa, Nik, Drmanac, D. Gagi, Wang, Li-C., Winemberg, LeRoy, Abadir, Magdy S.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 11.97 MB

english, 2011

[IEEE 2005 Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Austin, TX, USA (2005.11.3-2005.11.3)] 2005 Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Post-Verification Debugging of Hierarchical Designs

Ali, Moayad, Safarpour, Sean, Veneris, Andreas, Abadir, Magdy, Drechsler, Rolf

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 243 KB

english, 2006

[IEEE 4th International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Common Challenges and Solutions - Austin, TX, USA (29-30 May 2003)] Proceedings. 4th International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Common Challenges and Solutions - A methodology for validating manufacturing test vector suites for custom designed scan-based circuits

Jayanta Bhadra,, Narayanan Krishnamurthy,, Magdy Abadir,

Рік:

2003

Файл:

PDF, 2.61 MB

2003

[IEEE 2005 Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Austin, TX, USA (2005.11.3-2005.11.3)] 2005 Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Retiming Verification Using Sequential Equivalence Checking

Kahne, Brian, Abadir, Magdy

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 122 KB

english, 2006

[IEEE 2008 9th International Symposium of Quality of Electronic Design (ISQED) - San Jose, CA, USA (2008.03.17-2008.03.19)] 9th International Symposium on Quality Electronic Design (isqed 2008) - Thermal Aware Global Routing of VLSI Chips for Enhanced Reliability

Gupta, Aseem, Dutt, Nikil D., Kurdahi, Fadi J., Khouri, Kamal S., Abadir, Magdy S.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 427 KB

english, 2008

[IEEE 2007 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2007.10.21-2007.10.26)] 2007 IEEE International Test Conference - Analyzing the risk of timing modeling based on path delay tests.

Bastani, Pouria, Lee, Benjamin N., Wang, Li-C., Sundareswaran, Savithri, Abadir, Magdy S.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 259 KB

english, 2007

[IEEE 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) - Hsinchu, Taiwan (2008.04.23-2008.04.25)] 2008 IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) - An improved feature ranking method for diagnosis of systematic timing uncertainty

Bastani, Pouria, Callegari, Nicholas, Wang, Li-C., Abadir, Magdy

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 226 KB

english, 2008

[IEEE 2009 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) - Hsinchu, Taiwan (2009.04.28-2009.04.30)] 2009 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test - On chip Communication-Architecture Based Thermal Management for SoCs

Gupta, Aseem, Pasricha, Sudeep, Dutt, Nikil, Kurdahi, Fadi, Khouri, Kamal, Abadir, Magdy

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 292 KB

english, 2009

[IEEE 2005 Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Austin, TX, USA (2005.11.3-2005.11.3)] 2005 Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Automatic Generation of High Performance Embedded Memory Models for PowerPC Microprocessors

Bhadra, Jayanta, Abadir, Magdy, Burgess, David, Trofimova, Ekaterina

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 169 KB

english, 2006

[IEEE 2012 IEEE International Test Conference (ITC) - Anaheim, CA, USA (2012.11.5-2012.11.8)] 2012 IEEE International Test Conference - Screening customer returns with multivariate test analysis

Sumikawa, Nik, Tikkanen, Jeff, Wang, Li-C., Winemberg, LeRoy, Abadir, Magdy S.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.79 MB

english, 2012

[IEEE 2006 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2006.10.22-2006.10.27)] 2006 IEEE International Test Conference - Issues on Test Optimization with Known Good Dies and Known Defective Dies ¿ A Statistical Perspective

Lee, Benjamin, Wang, Li-c., Abadir, Magdy

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 11.83 MB

english, 2006

[IEEE 2012 IEEE International Test Conference (ITC) - Anaheim, CA, USA (2012.11.5-2012.11.8)] 2012 IEEE International Test Conference - An experiment of burn-in time reduction based on parametric test analysis

Sumikawa, Nik, Wang, Li-C., Abadir, Magdy S.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 756 KB

english, 2012

[IEEE 2013 IEEE International Test Conference (ITC) - Anaheim, CA, USA (2013.09.6-2013.09.13)] 2013 IEEE International Test Conference (ITC) - A pattern mining framework for inter-wafer abnormality analysis

Sumikawa, Nik, Wang, Li-C., Abadir, Magdy S.

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.27 MB

english, 2013

[IEEE 2007 International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era - Rabat, Morocco (2007.09.2-2007.09.5)] 2007 International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era - Meeting the evolving challenges of the semiconductor industry

Abadir, Magdy S.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 263 KB

english, 2007

[IEEE Design, Automation & Test in Europe Conference - Nice, France (2007.04.16-2007.04.20)] 2007 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition - Maximum Circuit Activity Estimation Using Pseudo-Boolean Satisfiability

Mangassarian, Hratch, Veneris, Andreas, Safarpour, Sean, Najm, Farid N., Abadir, Magdy S.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 252 KB

english, 2007

[IEEE 2007 Asia and South Pacific Design Automation Conference - Yokohama, Japan (2007.01.23-2007.01.26)] 2007 Asia and South Pacific Design Automation Conference - LEAF: A System Level Leakage-Aware Floorplanner for SoCs

Gupta, Aseem, Dutt, Nikil D., Kurdahi, Fadi J., Khouri, Kamal S., Abadir, Magdy S.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 269 KB

english, 2007

[IEEE 2006 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop - Monterey, CA, USA (2006.11.8-2006.11.10)] 2006 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop - Extracting a simplified view of design functionality via vector simulation

Guzey, Onur, Wen, Charles, Wang, Li-C., Feng, Tao, Abadir, Magdy

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 10.46 MB

english, 2006

[IEEE 2007 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2007.10.21-2007.10.26)] 2007 IEEE International Test Conference - Statistical analysis and optimization of parametric delay test

Wu, Sean H., Lee, Benjamin N., Wang, Li-C., Abadir, Magdy S.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 702 KB

english, 2007

Calcination of sodium-calcium carbonates in air

Gadalla, Ahmed M., Abadir, Magdi F.

Журнал:

Industrial & Engineering Chemistry Fundamentals

Рік:

1984

Мова:

english

Файл:

PDF, 531 KB

english, 1984

[IEEE 2014 9th International Conference on Computer Engineering & Systems (ICCES) - Cairo, Egypt (2014.12.22-2014.12.23)] 2014 9th International Conference on Computer Engineering & Systems (ICCES) - Plenary talk I: data mining-based prediction paradigm and its applications in design automation

Abadir, Magdy S.

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 561 KB

english, 2014

[ACM Press the 2nd IEEE/ACM/IFIP international conference - Stockholm, Sweden (2004.09.08-2004.09.10)] Proceedings of the 2nd IEEE/ACM/IFIP international conference on Hardware/software codesign and system synthesis - CODES+ISSS '04 - Analytical models for leakage power estimation of memory array structures

Mamidipaka, Mahesh, Khouri, Kamal, Dutt, Nikil, Abadir, Magdy

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 239 KB

english, 2004

[ACM Press the 15th ACM Great Lakes symposium - Chicago, Illinois, USA (2005.04.17-2005.04.19)] Proceedings of the 15th ACM Great Lakes symposium on VLSI - GLSVSLI '05 - Diagnosing multiple transition faults in the absence of timing information

Liu, Jiang Brandon, Abadir, Magdy, Veneris, Andreas, Safarpour, Sean

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 121 KB

english, 2005

On measuring the effectiveness of various design validation approaches for PowerPC microprocessor embedded arrays

Wang, Li-C., Abadir, Magdy S., Zeng, Jing

Журнал:

ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 252 KB

english, 1998

Introduction to special section on verification challenges in the concurrent world

Ray, Sandip, Bhadra, Jayanta, Abadir, Magdy S., Wang, Li-C., Gupta, Aarti

Журнал:

ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 42 KB

english, 2012

[ACM Press the 45th annual conference - Anaheim, California (2008.06.08-2008.06.13)] Proceedings of the 45th annual conference on Design automation - DAC '08 - Predictive runtime verification of multi-processor SoCs in SystemC

Sen, Alper, Ogale, Vinit, Abadir, Magdy S.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 521 KB

english, 2008